EUV Lithographie

Unser Leistungsangebot

Die Miniaturisierung u. a. im Bereich der Elektronik und Halbleiterindustrie erfordert zunehmend messtechnische und lithographische Verfahren, die feine Strukturen im Nano- und Subnanometerbereich erfassen und modifizieren können. Hier wird Strahlung mit sehr kurzer Wellenlänge im EUV-Bereich (Extrem Ultraviolett) – beispielsweise 13,5 nm – eingesetzt, um hochpräzise und komplexe Strukturanordnungen zu fertigen.

Am Fraunhofer ILT werden hierzu EUV-Strahlungsquellen und entsprechende Verfahren für die Materialbearbeitung und -analyse entwickelt. Die EUV-Technologien sind hochsensitiv für Strukturen mit nanoskaligen Abmessungen und lassen sich besonders vorteilhaft in der Halbleiterfertigung einsetzen. Dies erfordert neuartige Photoresists, die gleichzeitig eine hohe Empfindlichkeit und eine hohe Auflösung aufweisen müssen. Das am Fraunhofer ILT entwickelte EUV-Belichtungssystem kann die Entwicklung solcher Materialien kosteneffizient unterstützen.

Das Leistungsangebot umfasst Machbarkeitsstudien zu kundenspezifischen Aufgabenstellungen, die Entwicklung und Realisierung  angepasster Belichtungsanlagen, Untersuchungen zum Verhalten von Fotolaken und andere Materialien unter EUV-Bestrahlung, die Integration der EUV-Lithographie in Fertigungsprozesse sowie individuelle Beratung.

Entladungsbasierte EUV-Strahlungsquelle für Wellenlängen im Bereich 2 - 20 nm.
© Fraunhofer ILT, Aachen.
Entladungsbasierte EUV-Strahlungsquelle für Wellenlängen im Bereich 2 - 20 nm.
Nanostrukturen mit 300 nm (links, DUV) und 28 nm (rechts, EUV) half-pitch (HP), generiert mit laborbasierter EUV-Quelle.
© Fraunhofer ILT, Aachen.
Nanostrukturen mit 300 nm (links, DUV) und 28 nm (rechts, EUV) half-pitch (HP), generiert mit laborbasierter EUV-Quelle.
Laborsystem für die EUV-Bearbeitung von Wafern mit bis zu 100 mm Durchmesser.
© Fraunhofer ILT, Aachen.
Laborsystem für die EUV-Bearbeitung von Wafern mit bis zu 100 mm Durchmesser.

Plasmabasierte EUV-Strahlquellen

  • Strahlquellen für die EUV-Lithografie
  • Strahlquellen für die Röntgenmikroskopie
  • Leistungselektronik
  • Generatoren für hohe gepulste Ströme, schnelle Datenerfassung und Regelung gepulster Strahlungsquellen

Plasmaerzeugung und Diagnostik

  • Gasentladungs- und laserinduzierte Plasmen
  • Spektroskopie vom weichen Röntgen- bis IR-Bereich
  • Bestimmung von Strahlungsflüssen
  • Bestimmung von Plasmaparametern
  • Hochgeschwindigkeitsfotografie
  • Modellierung von Plasmen

Systemlösungen

  • Auslegung optischer Systeme für EUV-Applikationen
  • Optiksimulation
  • Integration von Plasmastrahlungsquellen
  • Realisierung von Gesamtsystemen

Applikationen mit EUV-Strahlung

  • Röntgenmikroskopie
  • EUV-Mikroskopie für die Maskeninspektion
  • EUV-Reflektometrie, Analyse von Oberflächen und Schichtsystemen
  • Nanostrukturierung mit EUV Interferenzlithografie
  • Charakterisierung der EUV-Photoresists

Märkte

Lasertechnik trägt in unterschiedlichen Märkten zur Lösung anspruchsvoller Aufgabenstellungen bei. Ob als Werkzeug in der Automobilfertigung, als Messmittel im Umweltbereich, als Diagnose- oder Therapieinstrument in der Medizintechnik oder als Kommunikationsmedium in der Raumfahrttechnik, der Laser bietet vielfache Einsatzmöglichkeiten mit hoher Produktivität und hoher Effizienz.

Auf den Markt-Webseiten finden Sie weitere Informationen und eine Auswahl aus unserem Angebot.

 

Forschen Sie mit uns!

Bei Fragen zu übergreifenden Themen nehmen Sie einfach Kontakt mit uns auf! Unsere Ansprechpartner stehen Ihnen gerne zur Verfügung.

Unsere Leistungsangebote decken ein weites Themenspektrum ab. Verwandte Themen und weitere Schwerpunkte aus Forschung und Entwicklung finden Sie unter den folgenden Links.